Springer Robust SRAM Designs and Analysis,

Springer Robust SRAM Designs and Analysis,

Das Buch "Robust SRAM Designs and Analysis" bietet eine umfassende Anleitung zur Gestaltung und Analyse von SRAM-Bit-Zellen, um den Herausforderungen im Nano-Bereich für CMOS- und aufkommende Technologien wie Tunnel-FETs gerecht zu werden. Angesichts ...

0 Testberichte
  • Marke: Springer
  • EAN: 9781493902446
  • Verfügbarkeit: Lieferbar

Preisspanne: 106,99€ - 106,99€*

Billigster Preis

Deals

  • Shops
  • Beschreibung
  • Testberichte
Preis (inkl. MwSt.)
Händler
Lieferstatus
Shop
106,99 €* Kostenloser Versand
Lieferbar: 3-6 Tage
Daten vom 2026-02-24
Änderungen vorbehalten
Zum Shop
Das Buch "Robust SRAM Designs and Analysis" bietet eine umfassende Anleitung zur Gestaltung und Analyse von SRAM-Bit-Zellen, um den Herausforderungen im Nano-Bereich für CMOS- und aufkommende Technologien wie Tunnel-FETs gerecht zu werden. Angesichts der fortwährenden Herausforderungen durch Prozessvariabilität in grossen Speicherarrays werden die gängigsten SRAM-Bit-Zellen-Topologien vorgestellt, die Variabilität mindern. Das Buch enthält detaillierte Analysen und experimentelle Simulationsaufbauten, die sich mit Herausforderungen wie Prozessvariationen, Leckströmen und NBTI (Negative Bias Temperature Instability) befassen. Ein besonderes Augenmerk liegt auf den verschiedenen Kompromissen, die erforderlich sind, um das bestmögliche Design einer SRAM-Bit-Zelle zu erreichen. Diese umfassende Einführung ist sowohl für Fachleute als auch für Studierende im Bereich Technik und IT von grossem ...

Das Buch "Robust SRAM Designs and Analysis" bietet eine umfassende Anleitung zur Gestaltung und Analyse von SRAM-Bit-Zellen, um den Herausforderungen im Nano-Bereich für CMOS- und aufkommende Technologien wie Tunnel-FETs gerecht zu werden. Angesichts der fortwährenden Herausforderungen durch Prozessvariabilität in grossen Speicherarrays werden die gängigsten SRAM-Bit-Zellen-Topologien vorgestellt, die Variabilität mindern. Das Buch enthält detaillierte Analysen und experimentelle Simulationsaufbauten, die sich mit Herausforderungen wie Prozessvariationen, Leckströmen und NBTI (Negative Bias Temperature Instability) befassen. Ein besonderes Augenmerk liegt auf den verschiedenen Kompromissen, die erforderlich sind, um das bestmögliche Design einer SRAM-Bit-Zelle zu erreichen. Diese umfassende Einführung ist sowohl für Fachleute als auch für Studierende im Bereich Technik und IT von grossem ...
Verfassen Sie einen Erfahrungsbericht


Sehr Unzufrieden            Sehr Zufrieden


Ähnliche Produkte

Das könnte Sie auch interessieren.

  • Zurück
  • Vor

Top Kategorien

Durchsuchen Sie unsere Top-Kategorien.

Moderne Überwachungskameras
Moderne Kameras zur Überwachung Ihres Grundstück. Jetzt vergleichen!
Ansehen ›
Smart TVs: Apps und Internet
Riesige Auswahl an Top Smart TVs. Jetzt stöbern & vergleichen!
Ansehen ›
Kreative Haus -& Gartenideen
Tolle Ideen zu Haus und Garten. Alles für ein schönes Zuhause!
Ansehen ›

Copyright © 2009 - 2026 | Preisgenau.de | Alle Rechte vorbehalten

*Preise können sich seit der letzten Aktualisierung erhöht haben. Alle Preise inkl. MwSt.